当下我们对电子设备的依赖与日俱增，拿电脑来说，它已经成为我们日常生活中的一部分。

我们使用的USB端口，比如键盘、鼠标。因为采用热插拔系统，极易受到由我们本身或者是空

气放电造成的静电影响，造成USB集成电路故障，最糟糕的是会在电子系统中产生数据位重影。

这是因为USB端口是我们本身在插拔USB外设时可能产生静电放电，损害USB接口，而这些损

害和故障造成电子设备的"硬性损伤"或元器件损坏。

       现代电脑越来越多的采用低功率逻辑芯片，造成这些逻辑芯片对静电非常敏感。大多数USB

集成电路都是以CMOS工艺为基础来设计和制造的，这就是为什么说，集成电路对静电极为敏感

的原因。另外，静电对于元器件的硬性损伤，虽然我们可以很容易地更换失效的元器件并使系统

重新纳入正轨，但是，假如发生了“软性损伤”(CMOS元件性能降级)，此时系统会不断产生不规则

的数据位，要花费数小时来进行故障排查，并且依靠重复测试也很难发现系统异常，因此对于USB

元件的ESD防护已经迫在眉睫的难题。

静电对于元器件造成的问题已经成为是众多重要难题之一。由于现电子产品体积小、密度大，在

ESD 的防护上要有独到的设计特点。这就要求设计者，具备一定的静电知识，将静电难题有效的

得到改善。静电的预防系统是一项艰巨的工程，只有不断的学习，才会在控制静电的道路上，将

路铺向成功的殿堂

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